减反射膜反射比测试仪
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品牌：HISTORY
产地：辽宁大连
主要规格和技术参数
1.2.1 仪器技术指标
| 波长范围： | 190nm～1100nm |
| 波长最大允许误差： | ±0.3nm |
| 波长重复性： | ≤0.1nm |
| 透射比测量范围： | 0～999% |
| 吸光度测量范围： | -4.000～4.000A |
| 透射比最大允许误差： | ±0.3% ±0.002Abs(0.5Abs处)、±0.004Abs(1.0Abs处)、±0.006Abs(2.0Abs处) |
| 透射比重复性： | ≤0.15% ±0.001Abs(0.5Abs)、±0.002Abs(1.0Abs) |
| 漂移： | ≤0.0004A/h(开机1小时后，500nm处) |
| 基线平直性： | ±0.0008A |
| 杂散光： | 0.04% |
| 噪声： | 100%线噪声≤0.2%；0% 线噪声≤0.1% |
| 扫描速度： | 波长移动：约3000nm/min，波长扫描：24nm/min-1400nm/min |
| 最小光谱带宽： | 1nm |
1.2.2 仪器使用条件
| 环境温度： | 5℃～40℃ |
| 环境湿度： | ≤85% |
| 海拔环境： | ≤2000m |
| 工作电压： | AC 100V~240V 50Hz/60Hz |
| 电压允许波动范围： | AC 85V~265V 50Hz/60Hz |
| 额定功率： | 200W |
| 主要配套件： | 打印机 |
| 保险丝型号和规格： | RF1-20/F3.15AL250V |
| 附：室内无强烈的电磁干扰及影响使用的震动 |
1.2.3 仪器规格
| 外形尺寸： | 长650mm×宽450mm×高220mm |
| 仪器重量： | 25kg |
产品发布日期：2026.03.23
大连赫斯特瑞仪器设备有限公司