型号:ML223 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程120g-2000g;全新单体传感器;德安特精密天平,最高设计精度1mg,产品包括实验室天平、工业天平、密度天平可以满足实验室和制造业各种称量需求。分度值1mg天平配备全透明防风罩,大量程天平配备大秤盘,密度天平配备 |
型号:ES-L124 品牌:D&T 德安特高速、高精度称重模块可满足机械和设备制造商对简单电气和机械集成的需求。它们专为工业环境下的自动生产过程而设计。采用超级单体电磁力传感器,结构高度一体化,耐久性更强;材料的一致性使传感器更加不受温度变化的影响,稳定性更强。超精细加工,使 |
型号:ES-L523 品牌:D&T 德安特高速、高精度称重模块可满足机械和设备制造商对简单电气和机械集成的需求。它们专为工业环境下的自动生产过程而设计。采用超级单体电磁力传感器,结构高度一体化,耐久性更强;材料的一致性使传感器更加不受温度变化的影响,稳定性更强。超精细加工,使 |
型号:ES-E210A 品牌:D&T 分度值:0.1mg,最大量程120g-320g;德安特ES-E系列半微量天平采用高灵敏度高稳定性的电磁平衡力传感器,最高设计精度0.1mg,最大量程120g-320g,整机质感出众、工艺严谨、精致良好的视觉效果结合大容积的操作空间正是该产品 |
型号:ES15KF-1 品牌:D&T 分度值:0.05g-1g,最大量程1.5kg-30kg;电阻应变片式传感器ES系列计重桌秤采用高精度传感器,产品体积小、功能多。具有自动归零、自动去皮、自动累计功能,具备单点校正及三点校正供选择,其称重反应速度可依使用环境不同做调整,该仪器 |
型号:BA224 品牌:D&T 分度值:0.1mg,最大量程120g-320g;BA系列新升级实验室天平,全系列配置更高的分辨率和响应速度的新一代的超级单体传感器,采用当今主流的VA液晶显示和触摸屏相结合的显示器技术,具备更高的对比度和更宽广的可视角度。产品秉承德安特公司 |
型号:BP22002 品牌:D&T 分度值:10mg, 最大量程220g-2200g; 镀金陶瓷可变电容式传感器;镀金陶瓷传感器具有出色的准确性、稳定性和快速的响应速度 独特的温度补偿方案,解决了由温度影响导致天平称量结果漂移的难题,确保称量结果的可靠性高性价比的杰出设计,出 |
型号:ML323 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程120g-2000g;全新单体传感器;德安特精密天平,最高设计精度1mg,产品包括实验室天平、工业天平、密度天平可以满足实验室和制造业各种称量需求。分度值1mg天平配备全透明防风罩,大量程天平配备大秤盘,密度天平配备 |
型号:BA623i 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程220g-1020g;BA系列新升级实验室天平,全系列配置更高的分辨率和响应速度的新一代的超级单体传感器,采用当今主流的VA液晶显示和触摸屏相结合的显示器技术,具备更高的对比度和更宽广的可视角度。产品秉承德安特公司一 |
型号:ES2035A 品牌:D&T 分度值:0.01mg/0.1mg,最大量程31g-120g/120g-210;德安特ES-E系列半微量天平采用高灵敏度高稳定性的电磁平衡力传感器,最高设计精度0.01mg,整机质感出众、工艺严谨、精致良好的视觉效果结合大容积的操作空间正是该 |
型号:ES30KF 品牌:D&T 分度值:0.05g-1g,最大量程1.5kg-30kg;电阻应变片式传感器ES系列计重桌秤采用高精度传感器,产品体积小、功能多。具有自动归零、自动去皮、自动累计功能,具备单点校正及三点校正供选择,其称重反应速度可依使用环境不同做调整,该仪器 |
型号:ES103S 品牌:D&T 分度值:0.001g,最大量程100g-200g;电阻应变片式传感器;德安特ES-S系列电子天平是一款设计精巧、具备交直流两用功能的便携式电子天平,内置直流可充电电池,充满电后可连续工作2小时。由电阻应变片式传感器和微机电路组成。具有去皮、 |
型号:XE2202 品牌:D&T 分度值:10mg,最大量程220g-2200g;全新单体传感器;全新的超级全新单体传感器---精准、快速、稳定和值得信赖完全符合21CFR Part11合规性---完全可追溯性全触屏的操作系统,全自动校准和调整技术,自动水平调整功能,内置1 |
型号:EP105A 品牌:D&T 分度值:0.01mg,最大量程31g-102g;一款经典的半微量分析天平经典的后置电磁平衡力传感器确保具有出色的准确性、超强的稳定性和快速的响应速度实验室微量分析称重任务的**实现 超大全视角LCD显示屏,操作简单,读数清晰、直观独特的滤膜 |
型号:XE50000.3-2S 品牌:D&T 质量比较仪是一种具有高分辨率和**重复性的特殊电子天平,主要用于对精度要求较高的砝码或物体的质量比较。一般来说,质量比较较仪不能直接读出砝码的质量,而是显示被测砝码或物体与标准砝码或物体相比较得出的数值。若我们已知标准砝码的质量,则可通过质 |