型号:CL21001 品牌:D&T 分度值:100mg,最大量程2000g-6000g;镀金陶瓷可变电容式传感器;CL系列电子天平是一种高精度、多功能、反应速度快的电子天平,采用高阻抗坚固耐用的镀金陶瓷可变电容式传感器。配置高灵敏度的温湿传感器,稳定性与精确性兼容的性能有效满 |
型号:ML85 品牌:D&T 分度值:0.01mg,最大量程31g-120g;ML系列半微量电子天平采用全新单体电磁力传感器,设计精度0.01mg。单体传感器是由整块高纯度铝合金在高精密加工中心上一体化切割完成,减少了传统传感器上百个零部件,结构高度一体化,耐久性更强; |
型号:ES602S 品牌:D&T 分度值:0.01g,最大量程100g-2000g;电阻应变片式传感器;德安特ES-S系列电子天平是一款设计精巧、具备交直流两用功能的便携式电子天平,内置直流可充电电池,充满电后可连续工作2小时。由电阻应变片式传感器和微机电路组成。具有去皮、 |
型号:ES-E220B 品牌:D&T 分度值:0.1mg,最大量程120g-320g;德安特ES-E系列半微量天平采用高灵敏度高稳定性的电磁平衡力传感器,最高设计精度0.1mg,最大量程120g-320g,整机质感出众、工艺严谨、精致良好的视觉效果结合大容积的操作空间正是该产品 |
型号:ML3202 品牌:D&T 分度值:10mg,最大量程220g-2200g;全新单体传感器;ML系列电子天平是一款称量准确可靠、显示快速清晰的天平,采用高灵敏度、高分辨率的超级单体电磁力传感器。整机外观出众、工艺严谨;超大容积的操作空间正是该产品的独特之处,可以满足客 |
型号:ES-L105-MZ 品牌:D&T 针对煤质分析行业特点和需求,经过深度定制开发的行业专用产品高速度、高精度称重模块,专为满足设备或自动化称重系统集成的需求量身定制采用全新的超级单体传感器技术---精准、快速、稳定和值得信赖采用isoCAL全自动内部校准和调整功能,充分确保称 |
型号:ES-L2202-MZ 品牌:D&T 针对煤质分析行业特点和需求,经过深度定制开发的行业专用产品高速度、高精度称重模块,专为满足设备或自动化称重系统集成的需求量身定制采用全新的超级单体传感器技术---精准、快速、稳定和值得信赖采用isoCAL全自动内部校准和调整功能,充分确保称 |
型号:BA224i 品牌:D&T 分度值:0.1mg,最大量程120g-320g;BA系列新升级实验室天平,全系列配置更高的分辨率和响应速度的新一代的超级单体传感器,采用当今主流的VA液晶显示和触摸屏相结合的显示器技术,具备更高的对比度和更宽广的可视角度。产品秉承德安特公司 |
型号:ES-E120A 品牌:D&T 分度值:0.1mg,最大量程120g-320g;德安特ES-E系列半微量天平采用高灵敏度高稳定性的电磁平衡力传感器,最高设计精度0.1mg,最大量程120g-320g,整机质感出众、工艺严谨、精致良好的视觉效果结合大容积的操作空间正是该产品 |
型号:ML35 品牌:D&T 分度值:0.01mg,最大量程31g-120g;ML系列半微量电子天平采用全新单体电磁力传感器,设计精度0.01mg。单体传感器是由整块高纯度铝合金在高精密加工中心上一体化切割完成,减少了传统传感器上百个零部件,结构高度一体化,耐久性更强; |
型号:BA323i 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程220g-1020g;BA系列新升级实验室天平,全系列配置更高的分辨率和响应速度的新一代的超级单体传感器,采用当今主流的VA液晶显示和触摸屏相结合的显示器技术,具备更高的对比度和更宽广的可视角度。产品秉承德安特公司一 |
型号:BA523 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程220g-1020g;BA系列新升级实验室天平,全系列配置更高的分辨率和响应速度的新一代的超级单体传感器,采用当今主流的VA液晶显示和触摸屏相结合的显示器技术,具备更高的对比度和更宽广的可视角度。产品秉承德安特公司一 |
型号:ML1203 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程120g-2000g;全新单体传感器;德安特精密天平,最高设计精度1mg,产品包括实验室天平、工业天平、密度天平可以满足实验室和制造业各种称量需求。分度值1mg天平配备全透明防风罩,大量程天平配备大秤盘,密度天平配备 |
型号:ES620 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程120g-620g;镀金陶瓷可变电容式传感器;德安特ES-A系列是一款高精度、多功能、反应速度快的精密电子天平,采用高阻抗、坚固耐用的镀金陶瓷可变电容式传感器。最高设计精度1mg,配置高灵敏度的温湿传感器,稳定性与精 |
型号:ES5KF2 品牌:D&T 质量比较仪是一种具有高分辨率和**重复性的特殊电子天平,主要用于对精度要求较高的砝码或物体的质量比较。一般来说,质量比较较仪不能直接读出砝码的质量,而是显示被测砝码或物体与标准砝码或物体相比较得出的数值。若我们已知标准砝码的质量,则可通过质 |