F3测厚仪探头测厚范围0～3000um
型号：测头 F3
仪器产地：国产其它测厚仪
德国EPK F3测厚仪探头是一款专为测量较厚覆层设计的磁性测头，具有宽广的测量范围，从0到3000微米，以及出色的0.2μm低端分辨率，可用于高精度测量任务，确保涂层厚度测量的准确性。
德国EPK 测厚仪探头F3是磁性测头，适用于测量较厚的覆层。量程低端分辨率为0.2 μm。
技术参数
| 型号 | F3 |
| 测厚范围 | 0～3000μm |
| 最小测量面积 | 直径3mm |
| 探头类型 | 磁性探头 |
| 低端分辨率 | 0.2μm |
产品发布日期：2026.03.18
德国ElektroPhysik（EPK）