型号:CO600FCB+F5S HTechMT CO600FCB+F5S 涂层测厚仪是一款基本型分体式涂层测厚仪,专为快速准确地测量磁性金属基体(如钢、铁)上非磁性涂层或镀层(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)以及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层(如珐琅 |
型号:CO600FAS1W 涂层测厚仪可快速准确地测量磁性金属基体(如钢、铁)上非磁性涂层或镀层(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)的厚度及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)的厚度。执行标准:ISO 2178/2360/2 |
型号:CO600FAS5W 涂层测厚仪可快速准确地测量磁性金属基体(如钢、铁)上非磁性涂层或镀层(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)的厚度及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)的厚度。执行标准:ISO 2178/2360/2 |
型号:CO600FCT+F2R HTechMT CO600FCT+F2R 漆膜测厚仪是一款分体型涂层测厚仪,专为铁基材料设计,具有广泛的测量范围,可测量高达5000μm的涂层厚度,且精度高,误差范围仅为±1~3%/±20μm。该仪器支持多种校准模式,包括平滑两点校准、粗糙 |
型号:CO600F2S 测厚仪探芯采用超强耐磨材料制作,大大提高了探头的使用寿命,保证了仪器的测量 精度和重复性。这样的设计一改市场常见探头因内芯磨损而测量欠准确、或镶嵌的红宝 石脱落等缺陷。探头编号执行标准:ISO 2178/2360/2808、ISO 1984 |
型号:SP310-C SP310拓片纸(锚纹纸)提供了一种简单的测量表面粗糙度的方法。拓片纸有一层坚硬的不可压缩聚合物和一层泡沫面构成。将拓片纸放到被测表面,并进行充分压印后,表面粗糙状况就会详细的记录到拓片纸上。技术参数型号 测量范围 ( mils / μm |
型号:CO100-2 德国HTechMT CO100-2湿膜卡是一款用于测量油漆、珐琅、胶等喷涂在光滑表面上的湿膜厚度的便捷工具。其具备简单的操作、容易清洗和可重复使用的特点,适用于各种湿膜厚度的测量需求。CO100-2湿膜卡提供广泛的量程范围和多种分刻度选项, |
型号:CO600FCS+F1S HTechMT CO600FCS+F1S 涂层测厚仪是一款标准型的分体式涂层测厚仪,专为磁性金属基体(如钢、铁)上的非磁性涂层或镀层(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)以及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层(如珐琅、橡胶、油 |
型号:CO600FCS+F2S HTechMT CO600FCS+F2S 涂层测厚仪是一款高性能的分体式涂层测厚仪,专为铁基材料设计。它能够快速、准确地测量磁性金属基体(如钢、铁)上的非磁性涂层或镀层(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)的厚度,以及非磁性金属基体(如铜、铝 |
型号:AT100-12I 德国HTechMT AT100-12I 附着力割刀是标准套装,包含6个2mm刀片,适用于0-120μm的膜厚环境。该产品提供了一种简便易行的方法,用于评估涂层和基材之间的附着力,符合ISO 2409和ASTM D3359等执行标准。刀头材质 |
型号:SP125-G 德国HTechMT SP125-G粗糙度比较板是专为评估喷砂后表面粗糙度设计的工具,可用于质量控制和表面处理过程的准确性验证。该比较板符合ASTM D 4417方法A、ISO 8503-1和ISO 8503-2标准,提供多个粗糙度区域选项, |
型号:CO600FCS+F3S HTechMT CO600FCS+F3S 涂层测厚仪是专为铁基材料设计的标准型分体式测量仪器,具有出色的性能。它可精确测量磁性金属基体(如钢、铁)上的非磁性涂层或镀层(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)的厚度,以及非磁性金属基体(如铜、铝、 |
型号:CO600FCT+F5S HTechMT CO600FCT+F5S 覆层测厚仪是一款高级分体型涂层测厚仪,特别适用于铁基材料,具有500μm的测量范围和高精度(误差范围±1~3%/2.5μm)。它支持多种校准模式,包括平滑两点校准、粗糙两点校准、零点校准和工厂校准, |
型号:CO600FBB5R HTechMT CO600FBB5R 覆层测厚仪是一款经济型的铁基涂层测厚仪,专为快速准确地测量磁性金属基体(如钢、铁)上的非磁性涂层或镀层(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)的厚度以及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层(如 |
型号:AT200-20 德国HTechMT AT200-20 数显附着力测试仪是一款操作简单的设备,可用于实验室和现场测试涂层和基材的附着力。它具有20mm的锭子直径,量程范围广泛,可达0.8-15MPa,精度高达全量程的±2%。此测试仪提供数显式显示屏,支持MP |