型号：ST36A/ST36B/ST36C/ST36D
ST系列 制用直线栅尺（敞开式）指示精度±0.5μm(最大有效测量长度300mm)的高精度型。实现了薄形读数头(厚11.5mm)。最大有效测量长度为3000mm，也可用于大型装置。每种信号输出规格备有4个型号。带信号异常时的LED显示功能。
型号：ML1×/ML3×/ML5×/ML10×/ML20×/ML50×/ML100×
ML系列 测量显微镜用物镜 有限远校正(物像间距280mm)明视场测量用长工作距离采用远心光学系统(10×以下)技术参数品 名 货号数值孔径NA工作距WD(mm)分辨力R(µm)物镜单体的 焦深±D.F.(µm)实际视场(mm)重量(g)ø
型号：573/536
573, 536系列 偏置卡尺 NTD10 · NT10主尺上的量爪能够上下滑动，可以准确的对阶差部位进行测量。支持阶差测量。573系列NTD为具有ABS**原点型，尺框平滑移动，操作舒适。配有数据输出端口，使其能连入测量网络系统和统计过程
型号：ABS AT1300
ABS AT1300 封闭式光栅尺 可满足高精度化的要求实现了**式栅尺最小分辨力0.001μm。形状细长，可实现省空间的设计。(与AT500-S、AT500-H可互换安装。)抗油污性及表面耐划伤性能大大提升与采用摄像为检测原理的传统光学式
型号：CDN-P20/CDN-P30/CDN-50C/CDN-75C/CDN-100C
551系列 CN形卡尺 CDN-P/C分辨力为0.01mm，易于读数。内置拥有**原点的ABSOLUTE标尺，开启后无需重置原点。551-301-20/551-331-20的防护等级是IP67(如果卡尺接触液体后，应进行防锈处理)。配有数据
型号：547-315/7315A
547-315/7315A 厚度表 非常适合测量圆形物体上的窄槽。测头和测砧的测量面为1mm厚的刀片形状。功能置零(INC增量测量系统)预设(ABS**测量系统)计数方向转换公差判断功能分辨力切换功能(仅限分辨力0.001mm型号)计算功能
型号：CG-D100/CG-D160
511系列 ABSOLUTE数显内径表 CG-D易操作的高精度内径测量仪。采用ABS(**原点)方式，不会出现超速错误。通过使用接长杆(选件)，可以测量2m的深孔。显示屏和握柄最大可旋转320º，显示屏最多可倾斜90º，可以轻松的从任何方向
型号：PPM-25B
PPM-B 纸厚千分尺 用于测量纸的厚度。(不能对应JIS P 8118: 2004)直进式测微螺杆。测量面直径: ø14.3 mm (无凹槽)带有恒定测力的装置。(8.02±0.8N)技术参数货号型号测量范围(mm)分度值(mm)最大允许
型号：VDS-H/PH/PR
VDS-H/PH/PR系列 深度尺主标尺的顶端为钩型，不仅可进行标准的深度测量，还可对凸出部分或孔口处进行深度和厚度测量。VDS-PH,VDS-PR系列的防冷却液型达到IP67等级。分辨力为0.01mm，能进行稳定的深度测量。具有**原点的
型号：SJ-310
SJ-310系列 表面粗糙度测量仪 SJ-310是一款操作简单且能满足多种需求的高级手持式表面粗糙度测量仪。配备大型触摸屏彩色图形液晶显示器，实现直观操作和简便操作性。高速热敏打印机（其打印速度约为传统型号的1.5倍）作为标准件提供。可打印
产品详情177系列 内径千分尺、Holtest、内径表附件用于内径千分尺、Holtest孔径千分尺和内径表的基点设置。技术参数钢制设置环规货号标称 直径 ød (mm)尺寸 (mm)类型精度øDøET实际尺寸与标称直径公差(µm)标定直径的
型号：CGM-100X/CGM-160X/CGM-250X/CGM-400X/CGM-600X/CGM-800X
511系列 内径表 CGM-X带测微头可进行更为精准的尺寸设置。活动测头的有效行程比以往产品更长。活动测头的尖端使用硬质合金球，确保高耐用性和耐磨性。握柄为中空结构，操作者的手部热传导引起的指示表变化值有效降低约50%，保证了高精度测量。使
型号：NT17-20/NT17G-20/NT21-20
NT17 钩式游标卡尺适合测量圆筒内侧的阶差位置。NT17G-20带有尺框精细进给装置。技术参数货号型号测量范围(mm)分度值(mm)最大允许误差EMPE (mm)*1备注536-171NT17-20外侧 0 - 200内侧 10.1 -
型号：UWF10×/30, WF10×/24, WF15×/16, WF20×/12
WF/UWF系列 大视场目镜 大视场型目镜WF超大视场10×(视场数30)UWF采用外部聚焦式光学系统可根据用途安装各种分划板 ※仅UWF为内部聚焦式，不可安装分划板。技术参数货号 型号 倍率 视场数 屈光度调节 高眼点 分划板安装重量(g
型号：CD-150/CD-300
515系列 Micro Checker深度千分尺检测规深度千分尺专用设计，可有效地调整基点。技术参数货号型号基点设置范围(mm)量块间距精度砧块精度(µm)515-570CD-1500 - 150±(1+L/150)µm, L = 量块长度