根据 Ra、Rz、Rq 和 Rt 进行粗糙度测试
PHYNIX粗糙度仪KR-110具有精度高、应用范围广、测量范围大、操作方便、结构稳定等特点。它用于根据 Ra、Rz、Rq 和 Rt 确定表面粗糙度,可用于测量所有类型的金属和非金属。
在测量过程中,传感器沿横向长度线性移动。同时,探头尖端根据粗糙度轮廓缓慢上下移动。这些运动被转换成电信号、放大、过滤和数字化。在数字信号处理器的帮助下,将数字电压值转换为所需的参数 Ra、Rz、Rq 和 Rt 并终显示出来。
应用领域
优势一览
技术规格
| 粗糙度参数: | Ra、Rz、Rq、Rt |
| 扫描长度: | 6 毫米 |
| 截止波长: | 0.25 毫米、0.8 毫米、2.5 毫米 |
| 测量范围: | Ra/Rq: 0,05 – 15,0 µm Rz/Rt: 0,1 – 50 µm |
| 测量精度: | +/- 15 % |
| 重复性: | < 12% |
| 探头尖端半径: | 10微米 |
| 触控笔角度: | 90° |
| 扫描原理: | 压电 |
| 展示: | OLED显示器 |
| 电源供应: | 3,7 V 锂离子 Akku |
| 工作温度: | -20 °C … +40 °C |
| 方面: | 106 毫米 x 70 毫米 x 24 毫米 |
| 重量: | 200 克 |
供货范围
带集成探头的仪表
内置锂离子电池
USB - 带有 USB 电缆的 AC 适配器
(玻璃-)粗糙度标准(Ra)
手提箱
操作说明德文/英文
制造商 - 测试证书