菲尼克斯PHYNIX公司
粗糙度测试仪KR-110

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型号:KR-110

根据 Ra、Rz、Rq 和 Rt 进行粗糙度测试

PHYNIX粗糙度仪KR-110具有精度高、应用范围广、测量范围大、操作方便、结构稳定等特点。它用于根据 Ra、Rz、Rq 和 Rt 确定表面粗糙度,可用于测量所有类型的金属和非金属。

在测量过程中,传感器沿横向长度线性移动。同时,探头尖端根据粗糙度轮廓缓慢上下移动。这些运动被转换成电信号、放大、过滤和数字化。在数字信号处理器的帮助下,将数字电压值转换为所需的参数 Ra、Rz、Rq 和 Rt 并终显示出来。

应用领域

优势一览

技术规格

粗糙度参数:Ra、Rz、Rq、Rt
扫描长度:6 毫米
截止波长:0.25 毫米、0.8 毫米、2.5 毫米
测量范围:Ra/Rq: 0,05 – 15,0 µm

Rz/Rt: 0,1 – 50 µm

测量精度:+/- 15 %
重复性:< 12%
探头尖端半径:10微米
触控笔角度:90°
扫描原理:压电
展示:OLED显示器
电源供应:3,7 V 锂离子 Akku
工作温度:-20 °C … +40 °C
方面:106 毫米 x 70 毫米 x 24 毫米
重量:200 克

供货范围

产品发布日期:2026.03.20
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