电磁干扰去耦夹EMID 150K
型号：EMID 150K
EMID 150K电磁干扰去耦夹用于射频场感应的传导骚扰抗扰度（GB/T 17626.6-2017、 IEC 61000-4-6-2013）测试中辅助设备端射频信号的去耦。可以对150 kHz-230 MHz信号进行有效衰减，保证辅助设备正常工作。本产品采用卡扣式结构，可以直接套在待去耦的线缆上，使用方便。同时去耦夹还具有与去耦线缆物理隔离的特点。
技术参数 | |
频率范围 | 150 kHz-230 MHz |
衰减系数* | ≥4 dB@150 kHz，≥20 dB@230 MHz |
可通过线缆直径 | 38 mm |
尺寸 | 520 mm（长）×130 mm（宽）×120 mm（高） |
工作温度 | 0℃～65℃ |
重量 | 7.5 kg |
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在附图所示的测试条件下得出。
附图：EMID 150K电磁干扰去耦夹衰减系数测试原理框图
产品发布日期：2026.01.24
苏州泰思特电子科技有限公司