SXJS-II型高压介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。

SXJS-II型高压介质损耗测试仪淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点;另外,本仪器针对电容式电压互感器(CVT)试验困难的特点,增设了外接法测试,外接标准电容器、调压器,使得测试非常简单可靠,是我厂的第三代智能化高压介质损耗测试装置。

技术参数

SXJS-II高压介质损耗测试仪性能特点

◆ 抗干扰介质损耗测试仪操作简单、中文显示、打印

◆ 使用方便、无需换算

◆ 自带高压，抗干扰能力强、测试时间短等优点

◆ 采用变频技术，保证在强电场干扰下准确测量

◆ 采用中文菜单操作，微机自动完成完全过程的测量

◆ 可正、反接线方法测量不接地或直接接地的高压电器设备

◆ 内部装备了高压升压变压器，并采取了过零合闸、防雷击等安全保护措施

包装清单

SXJS-II高压介质损耗测试仪技术参数

◆ 环境：-5℃～40℃（液晶屏应避免长时间日照）

◆ 相对湿度：30%～70%

◆ 供电电源：电压：220V±10%，频率50±1Hz

◆ 外形尺寸：长*宽*高=435mm*300mm*300mm

◆ 重量：20kg

◆ 输出功率：1KVA

◆ 显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）

◆ 测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法

◆ 测量范围：内接试验电压：≤60000PF（10KV电压大于30000PF）

◆ 基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1.5%±0.09%

电容容量（Cx）：1%±2pF