型号：OBP
OBP系列 油浴极化仪 OBP系列油浴极化仪是针对高效实践压电陶瓷极化而研发的，设备精密小巧，操作简单快捷，适用于块体、薄膜和薄片材料的极化，通过熟练掌握和不断地优化实验制备工艺，让压电陶瓷达到**极化效果，并且广泛应用于航空航天、激光陀螺
型号：TSC6520
TSC6520 热激励电流测量系统 TSC6520热激励电流测量系统是一款专门用于测量压电陶瓷热激烈电流的专用设备，该系统是在客户一致认可的TSC6510的基础上升级而成，不仅可以测量压电陶瓷的热激励退极化电流TSDC，还可以测量热激励极化
型号：DCS1000
DCS1000 电介质充放电测试系统 DCS1000电介质充放电测试系统是一种用于表征储能电介质材料充放电特性的试验装置，该装置能够快速测试储能电介质材料在不同电压、不同负载以及不同温度下的充放电特性，以及长期充放电寿命测试，程序直接分析给
型号：CPS-8000
CPS-8000 低温真空探针台 Partulab CPS-8000闭循环低温真空探针台是一款采用可靠的GM制冷技术快速制冷并为晶片、器件和材料（薄膜、纳米、石墨烯、电子材料、超导材料、铁电材料等）提供真空和低温测试条件进行非破坏性的电学表
型号：CSC
CSC系列 半导体材料电学测量系统 CSC系列半导体材料电学测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Keithley 4200-CSC半导体参数分析集成设计而成，是一款常温或高低温条件下测量有机半导体器件、纳米器件及薄膜材
型号：PEAI1000
PEAI1000系列 高精度压电分析仪 PEAI1000高精度压电分析仪是一款采用动态法评估压电材料压电系数d33的专用测量设备，是继中国声学所之后的又一款高精度压电材料压电系数测量设备，**的压电材料参数分析仪采用锁相放大技术，大幅度抑制
型号：DMS1650
DMS1650 超高温介电阻抗温谱仪 DMS1650超高温介电阻抗温谱仪是在客户一致认可的DMS1000的基础上设计开发的，主要用于电介质材料超高温电学性能研究，最高温度可达1650℃，可实现常温、高温、气氛条件下；可测量介电常数和介电损耗
型号：IPEMS
IPEMS系列 逆压电测量系统 IPEMS系列逆压电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和SIOS逆压电功能测量仪集成化设计而成，是一款常温或高低温条件下测量薄膜或薄片逆压电材料电学综合性测量系统。该系统可以实现-160
型号：RMS1650
RMS1650 超高温电阻率测量系统 RMS1650超高温电阻率测量系统主要用于评估测量绝缘材料电学性能，该系统采用三环电极法设计原理并获得一种绝缘材料电阻率测量夹具的专利(专利号2019204134342)，绝缘材料在高温下电阻和电阻率实
型号：TRMS-216
TRMS-216 高温热敏电阻测量系统 佰力博TRMS-216高温热敏电阻测量系统主要用于评估热敏电阻材料阻温性，该系统采用两线电阻法或三环电极法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空、气氛的条件下测量热敏电阻材料的阻温（R-T )特性、伏
型号：SMS-215
SMS-215 高温气敏电阻测量系统 BALAB SMS-215高温气敏电阻测量系统主要用于测量电阻型气体传感器材料的气敏特性，采用两线或四线电阻测量原理设计开发，该系统采用外部控温使得气敏元件测试摆脱了对器件的依赖，保持材料的形貌和结构，
型号：RMS-1000S
RMS-1000S 高温半导体材料电阻率测量系统 佰力博RMS-1000S系列半导体材料电阻率测量系统主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，
型号：FEMS-2160
FEMS-2160 高温铁电测量系统 FEMS-2160高温铁电测量系统主要用于高温、真空条件下测量材料的铁电性能，可以测量和显示铁电材料的电滞回线，饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流、疲劳、保持、I-V和开关特性等参数，能够较
型号：SPD电晕
SPD电晕 单通道高压极化仪 SPD电晕单通道高压极化仪是针对高校实践压电陶瓷极化而研发的，设备精密小巧，操作简单快捷，适用于薄膜和薄片材料的极化，可以让学生熟悉和掌握压电陶瓷材料的极化方法，培养他们理论实践、分析问题和解决问题的能力，是教
型号：RMS1000P
RMS1000P系列 高温四探针电阻率测量系统 主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，该系统采用直排四探针测量原理和单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准设计研发，可以实现高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗 单晶（棒