PST6747D IGBT动态参数测试平台适用于压接式IGBT（无FRD）、IGBT（含FRD）以及压接式FRD不同压力、不同结温条件下的动态参数的测试；满足千级净化间使用要求、主要应用于科研单位、实验室、生产企业等领域。
产品功能
PST6747D IGBT动态参数测试平台由0～5000V/0～300mA电压源单元 、储能电容、负载电感、限流电感转换电路 、采集控制单元、数字控制单元、压接恒温系统、以及为满足不同测试项目的互锁电路等组成。各功能单元分工明确，独立模块方式，便于安装调试及维修。
PST6747D主控单元采用工控机+FPGA处理器架构，通过多功能键盘实现人机交互，操作界面简单，信息全面（参数、波形、测试状态等）。
软件界面UI设计简洁，各项功能分区明确，使用方便，经过控制过程设计，软件实现多模块的并行控制，大大方便了用户使用相关功能模块，提高了用户体验。
产品特点
PST6747D通过硬件、软件完成电压源短路、过热及信号失真检测；
对于电源信号的短路、过负荷及过温等不正常工况，系统自身具有良好的保护功能。
通过高速采集且具有精度高、短路保护、测试方便及测试结束电容自动放电、随时调整温度、压力；
测试开始及结束提示、光栅安全防护门、语音、声光提示等特点。
技术参数
主要参数 | 测试范围 | 精度要求 | 测试条件 |
V 集射极电压 | 50～5000V | 200～500V±3%±1V; 500～2000V±2%±2V; 2000～5000V±1%±5V | 200～4500V |
I 集射极电流 | 50一5000A | 200～500A±3%±1A; 500～1000A±3%±2A; 1000A～5000A±2%±5A | 200～4000A |
V 栅极电压 | -30V～30V | -30～0V±1%±0.1V; 0～+30V±1%±0.1V | -30V～30V |
Ig 栅极电流 | 0～50A | 0～50A±1%±0.1A | 0～50A |
Qg 栅极电荷 | 400～50000nC | Ig:0～50A±3%±0.1mA; | 400～20000nC |
t脉冲宽度 | 10 μs--1000μs | 200 μs～1000μs （2000A以 下); 10 μs～200μs (2000A以上); 动态测试时需满足在脉宽条件 下可得到稳定可测的波形 | 10μs ～1000μs可设定 |
R 栅极电阻 | 0～30Ω | 6个阻值，阻值可任意排列组 合（便于更换） | 0～30Ω |
L负载电感值 | 20μH～2000μH（七档） | 20 μH、50μH、100μH、200μH、500μH、1000μH、2000μH可自动切换; 感值±5%±5μH 相应感值档需满足对应测试电 流能力 | 20 uH～-2000uH(七档) |
Lo 1 回路寄生电 感（人为给 定） | 100nH～800nH | 100nH、200nH、300nH、400nH、500nH、600nH、700nH、800nH可根据设定自动切换 | 100nH-一800nH |
Lo 2 测试回路杂 散电感 | 小于180nH | 小于180nH | 小于180nH |
t(on).t(off) 开通/关断延 迟 | 10～5000ns | 10～200±2%±2ns: 200～1000±2%±5ns 1000～5000±1%±10ns | |
t，t 上升/下降时 间 | 10～5000ns | 10～200±2%±2ns; 200～1000±2%±5ns; 1000-5000±1%±10ns | |
E，E 开通/关断能 量 | 1-20000mJ | 1～50mJ±2%±0.1mJ: 50～200mJ±2%±1mJ; 200～1000mJ±2%±2mJ; 1000～10000mJ±1%±5mJ; 10000-20000mJ±1%±10mJ | |
di/dt | 10～50000A/us | 10～50000A/us±1% |