货号：9495021
品牌：安捷伦
真空技术->油封旋片泵->用于旋片泵的维护和备件工具包Major spare part kit, for MS-301 high capacity rotary vane pumpUNSPSC Code40151728

货号：8003-0892
品牌：安捷伦
原子光谱->原子吸收光谱 (AAS)->用于珀金埃尔默 AAS 仪器的空心阴极灯Chromium (Cr), 50 mm, coded HC lamp, for PerkinElmer AA. 铬 (Cr) 编码 50 mm 空心阴极灯。元

货号：X3581-64529
品牌：安捷伦
真空技术->涡轮分子泵系统 (TPS)->TPS-移动型涡轮分子泵组TPS 移动型涡轮分子泵系统，TwisTorr 305 FSQ 涡轮分子泵，DN 100 ISO-K，TriScroll 300 前级泵带真空泵隔离阀，FRG-700 全量

货号：MSPB0938
品牌：安捷伦
真空技术->真空组件和硬件->ConFlat 法兰ConFlat 法兰，1.33 英寸 (DN 16 CF)，带 0.125 英寸定位销Component MaterialComponent TypeUNSPSC Code40181906材

货号：G3440-20005
品牌：安捷伦
气相色谱->气相色谱备件和消耗品->气体和液体进样阀备件Sample loop, GC valve, Hastelloy, 0.50 mLMaterial(s)ofConstructionHastelloyUNSPSC Code401416

货号：05971-80101
品牌：安捷伦
气质联用系统 (GC/MS)->GC/MS 备件->用于 GC/MS 的仪器备件Electron multiplierUNSPSC Code41115400产品类型电子倍增器仪器兼容性597159725973GCD

货号：A496301C
品牌：安捷伦
分析化学样品前处理->固相萃取 (SPE) 小柱、多孔板、吸附剂->Bond Elut 1 mL 96 圆孔板Bond Elut SAX，96 孔圆孔板，1 mL，100 mg，1/包. 一种强阴离子交换吸附剂，非常适合萃取羧酸等在弱阴离子

货号：5182-0737
品牌：安捷伦
色谱样品瓶, 瓶盖和隔垫->用于 HPLC 和 GC 的自动进样器样品瓶->2 mL 螺口样品瓶和螺口盖UNSPSC Code41121800书写签Yes产品类型样品瓶、瓶盖和隔垫体积2 mL包括隔垫Yes包装类型储存盒宽度12 mm技术G

货号：SR03700237
品牌：安捷伦
真空技术->油封旋片泵->用于旋片泵的抽气口过滤器和捕集阱Inlet screen, for DS-102 to DS-602 rotary vane pumpsUNSPSC Code20101601

货号：G4911-67000
品牌：安捷伦
原子光谱->电感耦合等离子体质谱 (ICP-MS)->用于 7700 和 8800 系统的 ISIS 备件用于 ISIS-DS 的蠕动泵管线，扩口端 PVC Tygon®，2 节，橙色/蓝色接头，内径 0.25 mm，12 件/包. 适用于

货号：1000-0488
品牌：安捷伦
液相色谱->HPLC 备件和消耗品->HPLC 流通池Quartz window, for DAD flow cells. 与 DAD 和 MWD 流通池兼容：标准流通池；半微量流通池；微量流通池和制备型流通池 — SSTUNSPSC Co

货号：PL1312-3501
品牌：安捷伦
生物制药 HPLC 分析->完整蛋白质和亚基分析->用于生物分子 HPLC 的 PLRP-S 色谱柱PLRP-S 300 Å，1.0 x 150 mm, 5 µm. 采用全多孔 PS/DVB 颗粒载体的反相 HPLC 色谱柱，能够在高温和宽

货号：14256018
品牌：安捷伦
分析化学样品前处理->固相萃取 (SPE) 小柱、多孔板、吸附剂->Bond Elut 固相萃取 (SPE) 柱Bond Elut SI 柱，2 g，12 mL，120 μm，20/包. Bond Elut SI 是一种极性极强的吸附剂，尤

货号：5982-0034
品牌：安捷伦
分析化学样品前处理->固相萃取 (SPE) 小柱、多孔板、吸附剂->Bond Elut SIBond Elut NH2/SI，250 mg/250 mg，3 mL，50/包SPE CategoryPolar/Anion ExchangeSP

货号：G8000-64112
品牌：安捷伦
原子光谱->微波等离子体原子发射光谱仪 (MP-AES)->MP-AES 的各种备件Pre-optic window for Agilent MP-AES. 用于保护光学元件免受样品基质的影响，同时允许样品的发射光到达检测器。UNSPSC