型号:ML323 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程120g-2000g;全新单体传感器;德安特精密天平,最高设计精度1mg,产品包括实验室天平、工业天平、密度天平可以满足实验室和制造业各种称量需求。分度值1mg天平配备全透明防风罩,大量程天平配备大秤盘,密度天平配备 |
型号:XE2035P 品牌:D&T 分度值:0.01mg/0.1mg,量程31g-81g/120g-220g;全新的超级全新单体传感器---精准、快速、稳定和值得信赖完全符合21CFR Part11合规性---完全可追溯性全触屏的操作系统,全自动校准和调整技术,自动水平调整功 |
型号:XE2205S 品牌:D&T 分度值:0.01mg,量程31g-220g;全新的超级全新单体传感器---精准、快速、稳定和值得信赖完全符合21CFR Part11合规性---完全可追溯性全触屏的操作系统,全自动校准和调整技术,自动水平调整功能,内置12种应用程序,打印输 |
型号:XE220.5S 品牌:D&T 质量比较仪是一种具有高分辨率和**重复性的特殊电子天平,主要用于对精度要求较高的砝码或物体的质量比较。一般来说,质量比较较仪不能直接读出砝码的质量,而是显示被测砝码或物体与标准砝码或物体相比较得出的数值。若我们已知标准砝码的质量,则可通过质 |
型号:BA523 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程220g-1020g;BA系列新升级实验室天平,全系列配置更高的分辨率和响应速度的新一代的超级单体传感器,采用当今主流的VA液晶显示和触摸屏相结合的显示器技术,具备更高的对比度和更宽广的可视角度。产品秉承德安特公司一 |
型号:XE31.6S 品牌:D&T 分度值:1μg,最大量程2.1g-31g;全新单体传感器技术;微量天平是德安特**推出的一款高性能、符合GMP规范的智能电子天平,最高设计精度0.1μg,可满足您种特的需求和合规件要求,从而最大限度提高工作效率和实验结果精确度。天平采用全新 |
型号:XE323 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程220g-2200g;全新的超级全新单体传感器---精准、快速、稳定和值得信赖完全符合21CFR Part11合规性---完全可追溯性全触屏的操作系统,全自动校准和调整技术,自动水平调整功能,内置12种应用程序,打印 |
型号:BA1023i 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程220g-1020g;BA系列新升级实验室天平,全系列配置更高的分辨率和响应速度的新一代的超级单体传感器,采用当今主流的VA液晶显示和触摸屏相结合的显示器技术,具备更高的对比度和更宽广的可视角度。产品秉承德安特公司一 |
型号:ES3KC 品牌:D&T 分度值:0.05g-1g,最大量程1.5kg-30kg;电阻应变片式传感器ES系列计数桌秤采用高精度传感器、精度设计达0.1g/3000g。具有自动归零、自动去皮、自动累计、自动打印、自动流水号功能,具备单点校正及三点校正供选择,其称重反应 |
型号:ML523 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程120g-2000g;全新单体传感器;德安特精密天平,最高设计精度1mg,产品包括实验室天平、工业天平、密度天平可以满足实验室和制造业各种称量需求。分度值1mg天平配备全透明防风罩,大量程天平配备大秤盘,密度天平配备 |
型号:BA224 品牌:D&T 分度值:0.1mg,最大量程120g-320g;BA系列新升级实验室天平,全系列配置更高的分辨率和响应速度的新一代的超级单体传感器,采用当今主流的VA液晶显示和触摸屏相结合的显示器技术,具备更高的对比度和更宽广的可视角度。产品秉承德安特公司 |
型号:ES20K 品牌:D&T 分度值:0.1g-1g,最大量程8kg-60kg;镀金陶瓷可变电容式传感器/全新单体传感器;德安特工业天平是引进国外先进技术生产的高精度称量的工业电子天平。高精度,高量程,配备不锈钢秤盘,天平采用镀金陶瓷可变电容式传感器,其关键元器件采用国 |
型号:ES1055A 品牌:D&T 分度值:0.01mg/0.1mg,最大量程31g-120g/120g-210;德安特ES-E系列半微量天平采用高灵敏度高稳定性的电磁平衡力传感器,最高设计精度0.01mg,整机质感出众、工艺严谨、精致良好的视觉效果结合大容积的操作空间正是该 |
型号:XE50000.2-2S 品牌:D&T 质量比较仪是一种具有高分辨率和**重复性的特殊电子天平,主要用于对精度要求较高的砝码或物体的质量比较。一般来说,质量比较较仪不能直接读出砝码的质量,而是显示被测砝码或物体与标准砝码或物体相比较得出的数值。若我们已知标准砝码的质量,则可通过质 |
型号:XE26000.2S 品牌:D&T 质量比较仪是一种具有高分辨率和**重复性的特殊电子天平,主要用于对精度要求较高的砝码或物体的质量比较。一般来说,质量比较较仪不能直接读出砝码的质量,而是显示被测砝码或物体与标准砝码或物体相比较得出的数值。若我们已知标准砝码的质量,则可通过质 |