型号:BA623 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程220g-1020g;BA系列新升级实验室天平,全系列配置更高的分辨率和响应速度的新一代的超级单体传感器,采用当今主流的VA液晶显示和触摸屏相结合的显示器技术,具备更高的对比度和更宽广的可视角度。产品秉承德安特公司一 |
型号:EX-FH104B 品牌:D&T 德安特系列快速水分测定仪是在电子天平的基础上配置了高精度称重传感器和高效率的卤素加热灯装置,达到快速、准确的水分测定。其中EX-F系列采用了全新的单体传感器,集成度高,稳定性好。产品在原有的水分测定仪基础上进行精细改良,使称量流程更为简洁的 |
型号:ML1205A 品牌:D&T 分度值:0.01mg,最大量程31g-120g;ML系列半微量电子天平采用全新单体电磁力传感器,设计精度0.01mg。单体传感器是由整块高纯度铝合金在高精密加工中心上一体化切割完成,减少了传统传感器上百个零部件,结构高度一体化,耐久性更强; |
型号:XE5.6S 品牌:D&T 分度值:1μg,最大量程2.1g-31g;全新单体传感器技术;微量天平是德安特**推出的一款高性能、符合GMP规范的智能电子天平,最高设计精度0.1μg,可满足您种特的需求和合规件要求,从而最大限度提高工作效率和实验结果精确度。天平采用全新 |
型号:ES-J220 品牌:D&T 分度值:0.1mg,最大量程120g-220g;德安特ES-J系列电子天平采用国际上公认的高灵敏度、高分辨率的电磁平衡力传感器。最高设计精度0.1mg,具备智能温补、背光清晰显示、多点线性修正等优势,在性价比层面上**行业同类万分之一天平, |
型号:ML5202 品牌:D&T 分度值:10mg,最大量程220g-2200g;全新单体传感器;ML系列电子天平是一款称量准确可靠、显示快速清晰的天平,采用高灵敏度、高分辨率的超级单体电磁力传感器。整机外观出众、工艺严谨;超大容积的操作空间正是该产品的独特之处,可以满足客 |
型号:ML124 品牌:D&T 分度值:0.1mg,最大量程120g-220g;ML系列电子分析天平采用全新单体电磁力传感器,设计精度0.1mg。单体传感器是由整块高纯度铝合金在高精密加工中心上一体化切割完成,减少了传统传感器上百个零部件,结构高度一体化,耐久性更强;材料 |
型号:XE2205S 品牌:D&T 分度值:0.01mg,量程31g-220g;全新的超级全新单体传感器---精准、快速、稳定和值得信赖完全符合21CFR Part11合规性---完全可追溯性全触屏的操作系统,全自动校准和调整技术,自动水平调整功能,内置12种应用程序,打印输 |
型号:JP1204 品牌:D&T 分度值:0.1mg,最大量程120g-220g; 经典的电磁平衡力传感器高精度、高分辨率的电磁平衡力传感器,确保称重结果的准确性、稳定性和快速响应特有的滤膜称重技术,即时您在微量称重的状态下也能获得同样的称量速度高性价比的杰出设计,使您以最 |
型号:ES2035AF2 品牌:D&T 质量比较仪是一种具有高分辨率和**重复性的特殊电子天平,主要用于对精度要求较高的砝码或物体的质量比较。一般来说,质量比较较仪不能直接读出砝码的质量,而是显示被测砝码或物体与标准砝码或物体相比较得出的数值。若我们已知标准砝码的质量,则可通过质 |
型号:ES15KF-1 品牌:D&T 分度值:0.05g-1g,最大量程1.5kg-30kg;电阻应变片式传感器ES系列计重桌秤采用高精度传感器,产品体积小、功能多。具有自动归零、自动去皮、自动累计功能,具备单点校正及三点校正供选择,其称重反应速度可依使用环境不同做调整,该仪器 |
型号:ES310D 品牌:D&T 分度值:1mg,最大量程120g-500g,密度可读性0.001g/cm3;镀金陶瓷可变电容式传感器;德安特密度天平由高精度的电子天平与密度测量装置组合而成,密度值可直接显示在屏幕上。大大减少了人工换算的繁琐性和人为误差。应用阿基米德原理, |
型号:CL202 品牌:D&T 分度值:0.01g,最大量程100g-500g;镀金陶瓷可变电容式传感器;可选防风罩;CL系列百分之一电子天平是一种高精度、多功能、反应速度快的电子天平,采用高阻抗坚固耐用的镀金陶瓷可变电容式传感器。配置高灵敏度的温湿传感器,稳定性与精确性 |
型号:CL21001 品牌:D&T 分度值:100mg,最大量程2000g-6000g;镀金陶瓷可变电容式传感器;CL系列电子天平是一种高精度、多功能、反应速度快的电子天平,采用高阻抗坚固耐用的镀金陶瓷可变电容式传感器。配置高灵敏度的温湿传感器,稳定性与精确性兼容的性能有效满 |
型号:XE50000.3-2S 品牌:D&T 质量比较仪是一种具有高分辨率和**重复性的特殊电子天平,主要用于对精度要求较高的砝码或物体的质量比较。一般来说,质量比较较仪不能直接读出砝码的质量,而是显示被测砝码或物体与标准砝码或物体相比较得出的数值。若我们已知标准砝码的质量,则可通过质 |