型号:UP25N-250F-H12-D0 模块化概念提高探测器的功率:有4种不同的冷却模块性能高上升时间快(1.3 秒)损坏阈值高(45 kW/cm2)能量模式测量单次能量上升高至 40 J智能接口包含所有的校准数据 |
型号:UP19K-30H-H5-D0 模块化概念提高您的探测器的功率:有5种不同的冷却模块性能高上升时间快(0.6 秒)损坏阈值高(36 kW/cm2)设计紧凑仅20.6 mm 厚(15S 型)能量模式测量单次能量上升高至 15 J智能接口包含所有的校准数据 |
型号:XLP12-3S-VP-D0 低功率热电堆光学探测器的低噪音和热敏器件的宽幅大功率小的热漂移只有 6 µW/°C(带红外滤波片)高灵敏度200 mV/W(无红外滤波片)用于超短脉冲的特殊型号VP(容积吸收剂)版本特别适合发射超短脉冲的低功率激光器(ps和fs)红外滤波片 |
型号:PH20-Ge-OD1-D0 大光圈硅传感器光圈为10 mm直径3种型号硅 350 - 1080 nm,高达750 mW紫外硅 210 - 1080 nm,高达38 mW锗 800 - 1650 nm,高达500 mW衰减器选择OD0.3: 50% 传输(PH100-S |
型号:XLP12-3S-H2-D0 低功率热电堆光学探测器的低噪音和热敏器件的宽幅大功率小的热漂移只有 6 µW/°C(带红外滤波片)高灵敏度200 mV/W(无红外滤波片)用于超短脉冲的特殊型号VP(容积吸收剂)版本特别适合发射超短脉冲的低功率激光器(ps和fs)红外滤波片 |
型号:UP19K-50L-H5-D0 模块化概念提高您的探测器的功率:有5种不同的冷却模块性能高上升时间快(0.6 秒)损坏阈值高(36 kW/cm2)设计紧凑仅20.6 mm 厚(15S 型)能量模式测量单次能量上升高至 15 J智能接口包含所有的校准数据 |
型号:Mach 6 高达 200 kHz 的脉间以高 200 kHz 的高重复频率测量每个脉冲,无需采样捕捉并存储高达 400 万个脉冲以 100 kHz 存储 40 秒的数据追踪遗漏脉冲及阈值以下的脉冲通过这一独特功能,可了解遗漏了多少脉冲或多少脉冲未达到能 |
型号:TUNER 超高速针不到1秒的响应时间读取电源检测器PH系列热电堆和光学探测器大屏幕液晶显示77 x 58 mm17.5 mm 位背光(带交流整流器)指针有三种显示功能普通尾部(表示速度)条柱显示还可以保持高值和低值一键导航可直接访问或长按访问主要功能 |
型号:QE12LP-H-MB-D0 模块化概念提高您的检测器的可能功率:有两种不同的冷却模块噪声水平低MB涂层0.7 µJ可获得的QED衰减器测量不超过5倍的更高能量。提供可选的校准,所有波长都在532和1064纳米之间,或单一波长可提供金属减震器QE12HR-MB: 1 0 |
型号:PH100-Si-HA-OD2-D0 大光圈硅传感器光圈为10 mm直径3种型号硅 350 - 1080 nm,高达750 mW紫外硅 210 - 1080 nm,高达38 mW锗 800 - 1650 nm,高达500 mW衰减器选择OD0.3: 50% 传输(PH100-S |
型号:UP10P-2S-H5-L-D0 低功率热电堆光学探测器的低噪音和热敏器件的宽幅大功率红外滤波片(UPF10 型)排除不需要的红外干扰高性能上升时间快(1.4 秒)损坏阈值高(36 kW/cm2)紧凑设计只有13 mm 厚(UP10P 型)能量模式测量单次能量上升可高达 3 |
型号:QE95ELP-S-MB-D0 模块化概念提高检测器的可能功率:有两种不同的冷却模块大孔径95 mm直径的有效孔径可获得的QED衰减器测量不超过5倍的更高能量。提供可选的校准,所有波长都在532和1064纳米之间,或单一波长噪声水平低MB涂层15 µJ测试目标包括MB 型 |
型号:QE12LP-S-MB-D0 模块化概念提高您的检测器的可能功率:有两种不同的冷却模块噪声水平低MB涂层0.7 µJ可获得的QED衰减器测量不超过5倍的更高能量。提供可选的校准,所有波长都在532和1064纳米之间,或单一波长可提供金属减震器QE12HR-MB: 1 0 |
型号:QE95LP-S-MB-QED-D0 模块化概念提高检测器的可能功率:有两种不同的冷却模块大孔径95 mm直径的有效孔径可获得的QED衰减器测量不超过5倍的更高能量。提供可选的校准,所有波长都在532和1064纳米之间,或单一波长噪声水平低MB涂层15 µJ测试目标包括MB 型 |
型号:QE65ELP-S-MB-D0 模块化概念提高检测器的可能功率:有两种不同的冷却模块大孔径65 x 65 mm的有效孔径可获得的QED衰减器测量不超过5倍的更高能量。提供可选的校准,所有波长都在532和1064纳米之间,或单一波长噪声水平低MB涂层10 µJ测试目标包括M |