型号：ND3.0-FOCUS
激光功率管理CMOS 传感器的饱和点和损伤阈值都较低。因此，控制激光功率对于获得佳测量结果并避免损坏 BEAMAGE 相机来说非常重要。根据需要进行堆叠和衰减这些滤光片可降低所有波长的强度而不会影响光束的波前或使图像失真。许多滤光片可以直接
型号：ND1.0
激光功率管理CMOS 传感器的饱和点和损伤阈值都较低。因此，控制激光功率对于获得佳测量结果并避免损坏 BEAMAGE 相机来说非常重要。根据需要进行堆叠和衰减这些滤光片可降低所有波长的强度而不会影响光束的波前或使图像失真。许多滤光片可以直接
型号：THZ5B-BL-DA-D0
相对测量范围从 0.1 至 30 THz宽带，室温操作，相较于高莱探测器更易于使用且价格便宜从 nW 至 mW 的宽动态范围采用先进的热电传感器，1 nW 分辨率内测量范围可低至 50 nW。多种传感器尺寸，可供选择可选直径范围，5 mm
型号：BA16-60S
激光功率管理CMOS 传感器的饱和点和损伤阈值都较低。因此，控制激光功率对于获得佳测量结果并避免损坏 BEAMAGE 相机来说非常重要。激光光束采样BA 系列光衰减器在两个正交光楔上采用菲涅尔反射，以去除一小部分输入光束。保留入射光束偏振状
型号：QE95ELP-H-MB-D0
模块化概念提高检测器的可能功率：有两种不同的冷却模块大孔径95 mm直径的有效孔径可获得的QED衰减器测量不超过5倍的更高能量。提供可选的校准，所有波长都在532和1064纳米之间，或单一波长噪声水平低MB涂层15 µJ测试目标包括MB 型
型号：ND0.5-FOCUS
激光功率管理CMOS 传感器的饱和点和损伤阈值都较低。因此，控制激光功率对于获得佳测量结果并避免损坏 BEAMAGE 相机来说非常重要。根据需要进行堆叠和衰减这些滤光片可降低所有波长的强度而不会影响光束的波前或使图像失真。许多滤光片可以直接
型号：QE95ELP-S-MB-D0
模块化概念提高检测器的可能功率：有两种不同的冷却模块大孔径95 mm直径的有效孔径可获得的QED衰减器测量不超过5倍的更高能量。提供可选的校准，所有波长都在532和1064纳米之间，或单一波长噪声水平低MB涂层15 µJ测试目标包括MB 型
型号：UP50M-50W-W9-D0
模块化概念提高探测器的功率：有4种不同的冷却模块损坏阈值非常高平均功率密度100 kW/cm2孔径非常大有效孔径的直径为50 mm ，非常适合大光束在这一系列中是高的能量读数测量单次能量上升可高达 500 J智能接口包含所有的校准数据
型号：PRONTO-6K
用于高功率的 PRONTO 系列替代了现在停产的 FLASH 系列。PRONTO 型号具有相同的激光测量功能，但采用新改良的电子技术，能够记录数据、增加校准点，并且可以通过 USB 连接进行数据传输和电池充电。功率范围大低噪声 = 一台设
型号：QE12LP-H-MB-D0
模块化概念提高您的检测器的可能功率：有两种不同的冷却模块噪声水平低MB涂层0.7 µJ可获得的QED衰减器测量不超过5倍的更高能量。提供可选的校准，所有波长都在532和1064纳米之间，或单一波长可提供金属减震器QE12HR-MB: 1 0
型号：QUAD-20-MT-P
测量，跟踪和对准根据您的激光束的去向4通道探测器独特的QUADrant 探测器技术，采用较高的分辨率感应激光束的位置对于CW，脉冲及高重复频率激光器QUAD-E：每次脉冲的能量（从μJ到mJ）QUAD-P：功率（从μW到mW）紫外至远红外和
型号：ND0.5
激光功率管理CMOS 传感器的饱和点和损伤阈值都较低。因此，控制激光功率对于获得佳测量结果并避免损坏 BEAMAGE 相机来说非常重要。根据需要进行堆叠和衰减这些滤光片可降低所有波长的强度而不会影响光束的波前或使图像失真。许多滤光片可以直接
型号：UP16K-100W-QED-D0
模块化概念增加探测器的功率容量4 种不同的冷却模块高峰值功率扩散吸收器特别适合高能量密度脉冲光束紧凑式设计36 mm 厚高平均功率100 W 连续功率智能接口包含所有校准数据Award-winning technologyThe UP-QE
型号：PH100-SiUV-D0
大光圈硅传感器光圈为10 mm直径3种型号硅 350 - 1080 nm，高达750 mW紫外硅 210 - 1080 nm，高达38 mW锗 800 - 1650 nm，高达500 mW衰减器选择OD0.3: 50% 传输(PH100-S
型号：UP50N-50H-W9-D0
模块化概念提高探测器的功率：有4种不同的冷却模块损坏阈值非常高平均功率密度100 kW/cm2孔径非常大有效孔径的直径为50 mm ，非常适合大光束在这一系列中是高的能量读数测量单次能量上升可高达 500 J智能接口包含所有的校准数据