品牌：奥林巴斯
OLS4500为您带来**的解决方案实现纳米级观测的新型显微镜。不会丢失锁定的目标。电动物镜转换器切换倍率和观察方法配有涵盖了低倍观察到高倍观察的4种物镜，并在电动物镜转换器上装配了SPM单元。可以无缝切换倍率和观察方法，不会丢失观察对象。
品牌：OGP
激光选项可提供高精度的单点聚焦和表面扫描功能，低能量的可见二极管激光，发射光源到零件表面，并接受反射光源，以此获得数据。通过激光扫描零件表面，以获得高分辨率的表面轮廓。 可以选择的激光传感器有TTL（通过镜头的）或者离轴，不同型号有不同的适
品牌：QVI Itaca
新的QVI FlexPoint 111 / 212是高经度的柔性接触式测量系统。可以定制测量客户的难以测量的零件和经密的小型零件。FlexPoint配置了新的QVI ZONE3基于CAD的3D测量软件。行程(mm)XYZFlexPoint
参考价格：1050000
型号：Benchmark 300
品牌：QVI VIEW
XYZ测量行程：300x300x150 mm/ 300x300x200 mm承载力：30 kg光学镜头：单放大倍率，固定倍率固定镜头光学与工厂可配置的后适配管和现场可互换前置镜头;可选双放大率，具有现场可更换的前置透镜的固定透镜光学测量的相
参考价格：1350000
型号：T16
产地：美国
ITACA柔性测量解决方案，总部在意大利都灵，专业从事通过触发式探针实现定制测量系统和配套软件的应用。Itaca的flexgauge系统相比传统的测量装置，拥有性能和成本的独特优势。Itaca_FlexGauge-T16柔性测量设备用于解决
参考价格：1150000
型号：Pinnacle250
品牌：QVI VIEW
VIEW Pinnacle 250影像测量仪有着非凡的精度和生产率，优异的MTBF性能，以及在同类型自动测量系统中最低的购置成本。其独特的可编程多色环形灯(PRL)选项运用红、绿、蓝、白LED照明，可轻松应对最苛刻的应用。**型的直性运动控
奥林巴斯CIX100检测系统是专为需要保持高要求清洁度标准的生产制造商而研发的整体解决方案。依照企业和国际标准对技术清洁度检测数据进行快速采集、处理和存档。该系统方便直观的软件可引导用户完成每一步流程，即使经验不足的操作员也能够快速、轻松地
参考价格：1150000
型号：Lite 200
品牌：QVI OCTO
在QVI家族的全自动光学检测与测量系统中，OCTO具有高性价比的优势。所有的OCTO机型都涵盖了以下功能：■直观的测量软件。OCTO系统使用的Measure-X®测量软件，具备了常规尺寸测量的所有功能以及强大易用的用户界面。■精密
参考价格：1150000
型号：Benchmark XLT
品牌：QVI VIEW
XLT拥有从900毫米X1500毫米到1500毫米X2000毫米的延伸行程范围，可以测量大面积组件和多个小组件的组合群体。其先进的光学,照明,以及图像处理功能使XLT成为世界yi流的计量系统.移动桥式设计功能为取放产品提供了一个开放式工作区
参考价格：1150000
型号：MicroLine1000
品牌：QVI VIEW
■测量范围(XYZ)：100x 100x 175 mm■测量范围(XYZ)：200x 200x 175 mm■测量范围(XYZ)：300x 300x 145 mm
品牌：OGP
OGP® 提供了一整套配合轮廓投影仪和OGPSmartScope®影像测量仪的标准夹具，使您能够为高效的检测提供快速准确和经济实用的零件定位。 为OGP轮廓投影仪特别设计的顶针有两种规格。5英吋（125m
品牌：ShapeGrabber
特征收益·几分钟内完成自动检测，而不是几小时使收集，自动校准和检测过程一体化提供 GD&T 报告提供全3D质量监控包括 Go/No Go 性能兼容多种多样的材料和颜色可在所有正常灯光照明下工作创建数字检验报告,可以保存和共享·减少了
参考价格：1150000
型号：Pinnacle+ Plus
品牌：QVI VIEW
VIEW Pinnacle+Plus将Pinnacle的性能提升到了下一个等级Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件，使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性.***的线性马达控制技术造就了运行速度最
参考价格：1150000
品牌：QVI VIEW
产地：美国
BenchMark 450 主要技术参数 XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米Z 精度:E1=(2.0+8L/1000)微米 （ 带TTL激光和可选5倍镜头）英制单位公制单位测量范围18" X18"X6&qu
品牌：OGP
QVI影像测量仪提供了一个广泛并创新的科技，从触发式到微型探针均可选配。探针选项单点触发式探针使QVISmartScope影像测量仪更加多元化。使用接触式探针可以测量到影像无法触及的特征或表面边界。探针测量可以成为Measure-X 或Me