型号:Mach 6 高达 200 kHz 的脉间以高 200 kHz 的高重复频率测量每个脉冲,无需采样捕捉并存储高达 400 万个脉冲以 100 kHz 存储 40 秒的数据追踪遗漏脉冲及阈值以下的脉冲通过这一独特功能,可了解遗漏了多少脉冲或多少脉冲未达到能 |
型号:BA16-60S 激光功率管理CMOS 传感器的饱和点和损伤阈值都较低。因此,控制激光功率对于获得佳测量结果并避免损坏 BEAMAGE 相机来说非常重要。激光光束采样BA 系列光衰减器在两个正交光楔上采用菲涅尔反射,以去除一小部分输入光束。保留入射光束偏振状 |
型号:QE25LP-S-MB-D0 模块化概念提高您的检测器的可能功率:有两种不同的冷却模块噪声水平低MB涂层2 µJ可获得的QED衰减器测量不超过5倍的更高能量。提供可选的校准,所有波长都在532和1064纳米之间,或单一波长可提供金属减震器QE12HR-MB: 1 000 |
型号:NDSET-6 激光功率管理CMOS 传感器的饱和点和损伤阈值都较低。因此,控制激光功率对于获得佳测量结果并避免损坏 BEAMAGE 相机来说非常重要。根据需要进行堆叠和衰减这些滤光片可降低所有波长的强度而不会影响光束的波前或使图像失真。许多滤光片可以直接 |
型号:QUAD-20-MT-P 测量,跟踪和对准根据您的激光束的去向4通道探测器独特的QUADrant 探测器技术,采用较高的分辨率感应激光束的位置对于CW,脉冲及高重复频率激光器QUAD-E:每次脉冲的能量(从μJ到mJ)QUAD-P:功率(从μW到mW)紫外至远红外和 |
型号:UP25M-350W-H12-D0 模块化概念提高探测器的功率:有4种不同的冷却模块性能高上升时间快(1.3 秒)损坏阈值高(45 kW/cm2)能量模式测量单次能量上升高至 40 J智能接口包含所有的校准数据 |
型号:PRONTO-250 袖珍型该款中到高功率手持探头极为小巧,可放入衣服口袋!操作简单触摸屏彩色 LCD 具有友好的用户界面。只需触摸一下按钮即可进行测量!用户可设置可以根据自己的应用设置波长、亮度和屏幕方向数据记录将数据保存至内存,然后可通过 USB 连接传输至 |
型号:ND3.0 激光功率管理CMOS 传感器的饱和点和损伤阈值都较低。因此,控制激光功率对于获得佳测量结果并避免损坏 BEAMAGE 相机来说非常重要。根据需要进行堆叠和衰减这些滤光片可降低所有波长的强度而不会影响光束的波前或使图像失真。许多滤光片可以直接 |
型号:QE95ELP-S-MB-D0 模块化概念提高检测器的可能功率:有两种不同的冷却模块大孔径95 mm直径的有效孔径可获得的QED衰减器测量不超过5倍的更高能量。提供可选的校准,所有波长都在532和1064纳米之间,或单一波长噪声水平低MB涂层15 µJ测试目标包括MB 型 |
型号:PH100-Si-HA-OD2-D0 大光圈硅传感器光圈为10 mm直径3种型号硅 350 - 1080 nm,高达750 mW紫外硅 210 - 1080 nm,高达38 mW锗 800 - 1650 nm,高达500 mW衰减器选择OD0.3: 50% 传输(PH100-S |
型号:THZ5I-BL-BNC 相对测量范围从 0.1 至 30 THz宽带,室温操作,使用更方便,价格比Golay cell 探测器便宜测量功率范围,nW 至 mW采用先进的热电传感器,1 nW 分辨率内测量范围可低至 50 nW集成的模拟模块直接将头插到示波器内电池或 |
型号:THZ12D-3S-VP-D0 相对测量范围从 0.1 至 30 THz宽带,室温操作,使用更方便,价格比Golay cell 探测器便宜平坦的光谱响应在整个波长范围内获得佳的精度测量更高功率THZ12D 型连续输出功率高达 3 W,在我们产品的太赫兹范围中高居榜首大孔径 |
型号:PH100-Si-HA-D0 大光圈硅传感器光圈为10 mm直径3种型号硅 350 - 1080 nm,高达750 mW紫外硅 210 - 1080 nm,高达38 mW锗 800 - 1650 nm,高达500 mW衰减器选择OD0.3: 50% 传输(PH100-S |
型号:QE25SP-S-MT-D0 模块化概念提高您的检测器的可能功率:有两种不同的冷却模块噪声水平低MB涂层2 µJ可获得的QED衰减器测量不超过5倍的更高能量。提供可选的校准,所有波长都在532和1064纳米之间,或单一波长可提供金属减震器QE12HR-MB: 1 000 |
型号:QE65LP-S-MB-QED-D0 模块化概念提高检测器的可能功率:有两种不同的冷却模块大孔径65 x 65 mm的有效孔径可获得的QED衰减器测量不超过5倍的更高能量。提供可选的校准,所有波长都在532和1064纳米之间,或单一波长噪声水平低MB涂层10 µJ测试目标包括M |