型号:N8100A 产地:上海 N8100A多通道充放电测试卡,提供超级电容全参数测试多种测试方法,用户可根据需要灵活选择。N8100A上位机软件支持平台化测试应用,用户可根据测试工艺和测试流程自行定制测试文件,测试结果可方便存储和导出。导出格式可支持数据库、EXCEL、 |
型号:N23010 产地:上海 N23010系列 高精度多通道可编程直流电源 N23010系列是一款专为半导体行业开发的高精度、多通道的可编程直流电源,可为芯片提供高精度、稳定且纯净的供电,配合环境试验箱进行多项环境可靠性测试 。产品电压精度高达0.01%,支持μA级电流 |
型号:N8350 产地:上海 N8350为一款小功率、多通道、高精度的双象限可编程电池模拟器。N8350采用双象限设计,电流可充可放,完全满足BMS主动均衡测试需求,同时支持短路、断路等故障模拟。N8350单台8个通道,通过编程软件可分别设定各通道电压、限流值。N835 |
型号:N8034A 产地:上海 N8034A为可编程多通道频率卡,可广泛应用于各种采集测量系统的校准、测试和各类PWM信号的模拟,采用NGI**的NXI架构,配合N8000系统和上位机软件,可实现PWM信号的输入检测和输出。N8034A只在N8000系统中使用,非常便于集 |
型号:N6148 产地:上海 N6148系列 多通道可编程直流电子负载 N6148系列多通道可编程直流电子负载是一款超高集成度、高可靠性、高精度的直流电子负载产品。N6148系列为集成应用量身定制,具备通讯速度快、集成度高、稳定性高的特点,标准19英寸3U机箱设计,单机 |
型号:N3918 产地:上海 3918是一款小功率、多通道、高精度多通道线性直流电源,单机达8个通道,所有通道负极共地。N3918编程软件具有多通道批量操作功能,各通道可分别显示数据及曲线图表,提供数据分析与报表功能,操作简洁、灵活易用,能满足多通道、多参数、复杂测试环 |
型号:N39200 产地:上海 N39200为一款高精度双通道可编程桌面式直流电源,外形小巧精致,重量轻盈方便用户进行移动。单机采用双通道输出,通道之间参数独立进行设置,通道间隔离。N39200不仅支持本地高清触摸屏和按键操控,方便便捷。本机还支持上位机远程控制,适用于多 |
型号:N62400 产地:上海 N62400超低电压大电流直流电子负载为NGI公司为燃料电池等相关领域测试而开发的一款高可靠性、高精度、高性价比全功能直流电子负载产品。该产品功率密度大,外形精致,适合桌面使用,也可安装于19寸标准机柜。型号通道数电压电流精度分辨率通讯接口 |
型号:N8331 产地:上海 N8331为一款小功率、多通道、高精度可编程电池模拟器。N8331多达24个通道,通过编程软件可分别设定各通道电压、电流。N8331编程软件灵活易用、操作简洁,能满足多通道、多参数、复杂测试环境下对直流电源的需求。N8331通道间相互隔离, |
型号:N2100 产地:上海 N2100系列 在线式燃料电池专用阻抗测试仪 N2100系列产品是NGI公司基于多年燃料电池测试经验而专门研发的在线式燃料电池专用阻抗测试仪。根据燃料电池输出容量,匹配本公司N62400系列电子负载、N6900系列电子负载、NW6900系列 |
型号:N8358 产地:上海 N8358为一款小功率、高精度、多通道的可编程电池模拟器。采用双象限设计,电流可充可放,不仅可满足BMS测试需求,支持多种故障模拟,还可满足消费类电子产品ATE测试。N8358单台8个通道,可满足四工位测试需求,通过编程软件可分别设定各通道 |
型号:N8030C 产地:上海 N8030C为NGI针对多通道PWM输出控制领域专门研发的多通道PWM输出控制卡,提供8组带死区PWM输出控制与16路普通PWM输出控制,适用于电机驱动控制、汽车电子测试等PWM输出控制场合。性能特点:■ 8组带死区PWM输出通道 ■ 输出 |
型号:N8000S 产地:上海 N8000S为小型单卡机盒,可容纳1张4HP宽度板卡。小型机箱可保护板卡在集成系统装配和调试时,不受外力和静电破坏;在使用中也可起到避免积累粉尘、隔离外界电磁干扰等作用,可从各个角度保护板卡。性能特点:■ 高吞吐速率,带宽高达2000M b |
型号:NSC3000 产地:上海 随着超级电容器产品技术的不断成熟,其在轨道交通、储能、风电、医疗等行业开始广泛应用,市场对超级电容的需求呈快速增长。对于超级电容生产企业目前生产工艺来说,无论是人工老化测试还是半自动老化测试均不能保证日均产能和批次质量,尤其处在当前智能制造 |
型号:NSC1000 产地:上海 随着超级电容器产品技术的不断成熟,其在轨道交通、储能、风电、医疗等行业开始广泛应用,市场对超级电容的需求呈快速增长。扣式超级电容作为超容中的一员,面临着出厂测试效率跟不上生产效率的问题。因此对于日益增长的扣式超级电容的快速测试需求也应运而生 |