型号：PEMS-600
PEMS-600 高温压电测量系统PEMS-600是建立在Partulab公司九年来备受信任并经过市场考验的HDMS系列产品设计经验的基础上，为压电温谱测是重新定义了测是体系PEMS-600主要采用准静态测量原理，是一款为高温条件下测量压电
型号：TRMS-216
TRMS-216 高温热敏电阻测量系统 佰力博TRMS-216高温热敏电阻测量系统主要用于评估热敏电阻材料阻温性，该系统采用两线电阻法或三环电极法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空、气氛的条件下测量热敏电阻材料的阻温（R-T )特性、伏
型号：DCS1000
DCS1000 电介质充放电测试系统 DCS1000电介质充放电测试系统是一种用于表征储能电介质材料充放电特性的试验装置，该装置能够快速测试储能电介质材料在不同电压、不同负载以及不同温度下的充放电特性，以及长期充放电寿命测试，程序直接分析给
型号：DMA100
DMA100 液体介电常数分析仪 DMA100液体介电常数测试仪是按照教学研究型大学思路开发，让学生熟悉和掌握电介质材料介电性能测试方法，培养他们理论联系实际、分析问题和解决问题的能力，还可以让学生进行功能材料的研发创新；是教学研究型大学电
型号：RMS-1000S
RMS-1000S 高温半导体材料电阻率测量系统 佰力博RMS-1000S系列半导体材料电阻率测量系统主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，
型号：RMS1000P
RMS1000P系列 高温四探针电阻率测量系统 主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，该系统采用直排四探针测量原理和单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准设计研发，可以实现高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗 单晶（棒
型号：TSC6520
TSC6520 热激励电流测量系统 TSC6520热激励电流测量系统是一款专门用于测量压电陶瓷热激烈电流的专用设备，该系统是在客户一致认可的TSC6510的基础上升级而成，不仅可以测量压电陶瓷的热激励退极化电流TSDC，还可以测量热激励极化
型号：DMS1650
DMS1650 超高温介电阻抗温谱仪 DMS1650超高温介电阻抗温谱仪是在客户一致认可的DMS1000的基础上设计开发的，主要用于电介质材料超高温电学性能研究，最高温度可达1650℃，可实现常温、高温、气氛条件下；可测量介电常数和介电损耗
型号：PEAI1000
PEAI1000系列 高精度压电分析仪 PEAI1000高精度压电分析仪是一款采用动态法评估压电材料压电系数d33的专用测量设备，是继中国声学所之后的又一款高精度压电材料压电系数测量设备，**的压电材料参数分析仪采用锁相放大技术，大幅度抑制
型号：IPEMS
IPEMS系列 逆压电测量系统 IPEMS系列逆压电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和SIOS逆压电功能测量仪集成化设计而成，是一款常温或高低温条件下测量薄膜或薄片逆压电材料电学综合性测量系统。该系统可以实现-160