型号：RMS1000I
RMS1000I系列 阻温特性测试系统 RMS1000I系列阻温特性测试系统是一款专门用于评估材料导电性能的装置，该系统不仅可以精确评估压电陶瓷的导电性能，还可以评估压电陶瓷在高温、空气、流动气 氛、真空气氛等条件下电阻率随温度、时间变化的
型号：FEMS-2160
FEMS-2160 高温铁电测量系统 FEMS-2160高温铁电测量系统主要用于高温、真空条件下测量材料的铁电性能，可以测量和显示铁电材料的电滞回线，饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流、疲劳、保持、I-V和开关特性等参数，能够较
型号：FDMS
FDMS系列 薄膜介电测量系统 FDMS系列薄膜介电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和Wayne Kerr阻抗分析仪集成设计而成，是一款常温或高低温条件下测量薄膜介电质材料的测量系统。该系统可以实现-160℃～400
型号：OBP
OBP系列 油浴极化仪 OBP系列油浴极化仪是针对高效实践压电陶瓷极化而研发的，设备精密小巧，操作简单快捷，适用于块体、薄膜和薄片材料的极化，通过熟练掌握和不断地优化实验制备工艺，让压电陶瓷达到**极化效果，并且广泛应用于航空航天、激光陀螺
型号：RMS-1000S
RMS-1000S 高温半导体材料电阻率测量系统 佰力博RMS-1000S系列半导体材料电阻率测量系统主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，
型号：CPS-7000
CPS-7000 低温真空探针台 CPS-7000系列液氮/液氦低温真空探针台是Parutulab佰力博公司匠心打造的一款低温电学测量综合性平台，是一种利用液氮/液氦快速制并为半导体晶圆片、器件、材料（薄膜、纳米、石墨烯、电子功能材料、超导
型号：RMS-1000I
RMS-1000I 高温绝缘材料电阻率测量系统 佰力博RMS-1000I高温绝缘材料电阻率测量系统主要用于评估测量绝缘材料电学性能，该系统采用三环电极法设计原理并获得一种绝缘材料电阻率测量夹具的专利（专利号：2019204134342），绝
型号：DMS1650
DMS1650 超高温介电阻抗温谱仪 DMS1650超高温介电阻抗温谱仪是在客户一致认可的DMS1000的基础上设计开发的，主要用于电介质材料超高温电学性能研究，最高温度可达1650℃，可实现常温、高温、气氛条件下；可测量介电常数和介电损耗
型号：PCA1000
PCA1000 压电陶瓷综合参数分析仪 PCA1000系列是一款采用交流谐振法评估压电陶瓷综合性能参数的专用设备，该设备可以直观便捷的测量压电陶瓷的自由相对介电参数εr3、介电损耗tanδ、机电耦合 系数KP/K33/K31/Kt、机械品质
型号：PEMS
PEMS 精密原位d33测试仪 BALAB佰力博是继中科院声学所之后的一家专门从事压电材料表征测试仪器研发的高科技企业，PEMS精密原位d33测试仪是世界上首款同时采用动态直接朔源法和交流谐振法进行压电参数综合评估系统，相对传统的准静态d3
型号：TSC6510
TSC6510 热激励电流测量系统 TSC6510热激励退极化电流测试系统是一款专门用于测量压电陶瓷退极化电流的专用设备，该系统可以用来解决压电陶瓷高压极化后，表征压电陶瓷高温退极化电流随温度变化的关系，最小空载电流可达到0.5PA，得到清
型号：DMS1000
DMS1000 高温介电阻抗温谱仪 佰力博数十位工程师和用户抽丝剥茧，调整、推翻、解决，让高温介电阻抗温谱仪有了全新定义。全新的DMS1000不仅升级了电极夹具测量平台，可以测量单样品和四样品块体材料；还升级可密封的金属屏蔽加热系统，可以实
型号：CPS-8000
CPS-8000 低温真空探针台 Partulab CPS-8000闭循环低温真空探针台是一款采用可靠的GM制冷技术快速制冷并为晶片、器件和材料（薄膜、纳米、石墨烯、电子材料、超导材料、铁电材料等）提供真空和低温测试条件进行非破坏性的电学表
型号：IPEMS
IPEMS系列 逆压电测量系统 IPEMS系列逆压电测量系统是基于Partulab CPS系列低温真空探针台和SIOS逆压电功能测量仪集成化设计而成，是一款常温或高低温条件下测量薄膜或薄片逆压电材料电学综合性测量系统。该系统可以实现-160
型号：SMS-215
SMS-215 高温气敏电阻测量系统 BALAB SMS-215高温气敏电阻测量系统主要用于测量电阻型气体传感器材料的气敏特性，采用两线或四线电阻测量原理设计开发，该系统采用外部控温使得气敏元件测试摆脱了对器件的依赖，保持材料的形貌和结构，