型号：SEMI
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI 是一款全自动测量系统。针对半导体行业复杂的 2.5D/3D 封装应用中的微结构质量控制进行了优化。全自动分析可避免损坏宝贵的晶圆材料。此外，统一的测试条件能够提供可靠的测量结果。该
型号：XUL240
在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时，XUL® 系列测量仪器是您的解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择
型号：ANOTEST YMP30-S
配有电缆探头的移动手持式设备，非常适合测量难以触及的测量点符合标准 DIN EN ：ISO12373-5 与 ASTM B 457-67自动开始测量过程高效、结构化的测量；充足的内存，可用于数千个应用，以及拥有多种评估功能特性：配有电缆探头
型号：ST200
FISHERSCOPE® ST200是菲希尔台自动化表征硬质涂层的划痕测试仪。可以简便地测试厚度≥1um涂层的粘合力和结合强度。仪器十分适用于研发、质量控制、来料检验和生产监控等领域。 特点多种加载模式，包括渐进式、恒载式加载按照下述标准进
型号：FISCHER MPO
型号：FISCHERSCOPE UMP20
Fischer的超声波测厚仪产品线是理想的测量各种防腐材料壁厚的仪器。插拔式可更换的探头设计使仪器可以灵活适应不同应用。仪器型号丰富，从入门级到高精度级。多种测量模式，包括A扫描和B扫描、回波-回波测量和声速模式。特性：可通过键盘输入密码升
凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。
型号：MPOR
小巧、方便且稳固 – MP0R系列仪器能够简便、快速且无损地测量涂层厚度。配有两个显示屏、一个特别坚固的外壳和耐磨损的探头，它们是可以直接用于现场可靠测量的理想设备。特性：由于极为耐用的仪器构造，即使在简陋的环境条件下也可进行可靠的测量借助
型号：SIGMASCOPE SMP350
SIGMASCOPE SMP350 是一款结构紧凑的手持式设备，适用于测定非铁磁性金属（如铝或铜）的电导率。通过测得的电导率能够进一步得出与热处理材料的硬度与强度相关的结论。从而建立热损伤与材料疲劳的证据。为此仪器使用了相敏涡流法。该方法经
型号：XAN 220
XAN® 系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高，因此在同类产品中脱颖而出特性：操作简单且性价比高。自下而上进行测量，从而快速、简便地定位样品广泛适用：为各个行业的典型需求
型号：POROSCOPEHV20
塑料保护涂层可使包装保持无菌，适用于医疗产品或真空包装食品。例如：用于保护箱体、船体或管道免受腐蚀的塑料或搪瓷涂层。POROSCOPE 系列，作为一款坚固耐用的便携式测量设备，非常适合快速、简便地测试非导电保护涂层，甚至可发现极其细微的小孔
型号：DUALSCOPE MPO
小巧、方便且稳固 – MP0 系列仪器能够简便、快速且无损地测量涂层厚度。配有两个显示屏、一个特别坚固的外壳和耐磨损的探头，它们是可以直接用于现场可靠测量的理想设备。特性：由于极为耐用的仪器构造，即使在简陋的环境条件下也可进行可靠的测量借助
型号：X-RAY 5000
X-RAY 5000 系列仪器采用模块化设计，可轻松集成到生产线中。例如，当必须测量大尺寸底材（如锡板）上的镀层时，X-RAY 5000 堪称理想解决方案。根据底材和镀层材料的不同，客户可按需求选配X射线源、探测器以及基本滤片。特性与生产系
型号：FISCHERSCOPE UMP150
Fischer的超声波测厚仪产品线是理想的测量各种防腐材料壁厚的仪器。插拔式可更换的探头设计使仪器可以灵活适应不同应用。仪器型号丰富，从入门级到高精度级。多种测量模式，包括A扫描和B扫描、回波-回波测量和声速模式。特性：可通过键盘输入密码升
型号：FISCHERSCOPE UMP100
Fischer的超声波测厚仪产品线是理想的测量各种防腐材料壁厚的仪器。插拔式可更换的探头设计使仪器可以灵活适应不同应用。仪器型号丰富，从入门级到高精度级。多种测量模式，包括A扫描和B扫描、回波-回波测量和声速模式。特性：可通过键盘输入密码升