型号：XAN 222
XAN® 系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高，因此在同类产品中脱颖而出特性：操作简单且性价比高。自下而上进行测量，从而快速、简便地定位样品广泛适用：为各个行业的典型需求
型号：DUALSCOPE MPO
小巧、方便且稳固 – MP0 系列仪器能够简便、快速且无损地测量涂层厚度。配有两个显示屏、一个特别坚固的外壳和耐磨损的探头，它们是可以直接用于现场可靠测量的理想设备。特性：由于极为耐用的仪器构造，即使在简陋的环境条件下也可进行可靠的测量借助
型号：DataCenter IP
使用 DataCenter IP 软件包轻松创建测试报告与检查计划。使用 DataCenter，您可以轻松地将测量值从测量设备传输到 PC，从而对其进行分析与归档。此高性能软件还可帮助您创建个性化的测试报告模板。由于采用了模块化结构，即使不
型号：FISCHERSCOPE UMP20
Fischer的超声波测厚仪产品线是理想的测量各种防腐材料壁厚的仪器。插拔式可更换的探头设计使仪器可以灵活适应不同应用。仪器型号丰富，从入门级到高精度级。多种测量模式，包括A扫描和B扫描、回波-回波测量和声速模式。特性：可通过键盘输入密码升
型号：ISCHERSCOPE MMS PC2
模块化测量系统 FISCHERSCOPE MMS PC2，搭载 Windows™ CE 操作系统，是适用于高精度涂镀层厚度测量与材料测试的理想解决方案。具备通过 LAN 与 USB 连接实现联网的功能，因此可以快速地集成至质量管理系统和自动
型号：XUL220
在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时，XUL® 系列测量仪器是您的解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择
凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。
型号：FMP100
凭借 DUALSCOPE® FMP100 ，FISCHEER可提供高性能手持式测量仪器，用于专业涂镀层厚度测量中各种要求严苛的任务。这些仪器配备触摸屏和 Windows™ CE 操作系统，操作快速且直观。更大的系统内存意味着您可以执行数千个
型号：SEMI
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI 是一款全自动测量系统。针对半导体行业复杂的 2.5D/3D 封装应用中的微结构质量控制进行了优化。全自动分析可避免损坏宝贵的晶圆材料。此外，统一的测试条件能够提供可靠的测量结果。该
型号：ST200
FISHERSCOPE® ST200是菲希尔台自动化表征硬质涂层的划痕测试仪。可以简便地测试厚度≥1um涂层的粘合力和结合强度。仪器十分适用于研发、质量控制、来料检验和生产监控等领域。 特点多种加载模式，包括渐进式、恒载式加载按照下述标准进
型号：SIGMASCOPE GOLD
使用 SIGMASCOPE GOLD，您可以快速、无损地检验黄金物品的真伪。此手持式设备能够可靠测定伪造金条与铸币中的杂质，如钨。该移动仪器配备电缆探头，甚至能够透过防护箔或包装箔进行测量。这可避免损坏宝贵样品。SIGMASCOPE GOL
型号：FISCHERSCOPE UMP40
Fischer的超声波测厚仪产品线是理想的测量各种防腐材料壁厚的仪器。插拔式可更换的探头设计使仪器可以灵活适应不同应用。仪器型号丰富，从入门级到高精度级。多种测量模式，包括A扫描和B扫描、回波-回波测量和声速模式。特性：可通过键盘输入密码升
型号：XUL210
在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时，XUL® 系列测量仪器是您的解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择
型号：fische
FMP10 系列手持式涂镀层厚度测量设备可提供精确的测量结果，多种测量技术使其具有高度的灵活性。包括采用磁感应测量 (DELTASCOPE®)、电涡流测量 (ISOSCOPE®) 或同时结合两种方法 (DUALSCOPE®) 的多种型号。通
型号：X-RAY 4000
FISCHERSCOPE X-RAY 4000 专为带状材料上的电镀层厚度测量与材料分析而设计。已经有300多套该测量系统安装于不同规模的电镀厂中。由于测量头可快速移动，即可实现对样品的多个位置进行测量。仪器的模块化设计能够根据您的特定要求